分流电阻+隔离放大器/隔离ADC是通过流过待测电流，从流过已知电阻的电压值计算电流值的方法。对于这种方法，需要使用隔离放大器或隔离ADC进行隔离。
此方法常用，适用于检测由相对较低的电压驱动的系统中的小电流，而不关心发热。但是，在流过大电流（超过几十安培）的应用中，以下缺点变得明显。
1.优点
它是目前最广为人知的检测方式，其技术在各家公司都有积累。
2.缺点
由于初级侧（高压侧）需要更多的零件编号，例如绝缘电源和双极电源，因此需要设计工时。
热设计很困难，因为初级电流产生的热量与电阻成正比，与其他方法相比可以大几十倍。
由于外围元件数量和布线复杂，基板的尺寸较大。
磁电流传感器是解决上述分流电阻+隔离放大器/隔离ADC的缺点的一种方法。
